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File | Issue Date | Title | Author(s) | View |
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2016-02-01 | Step-Down Spatial Randomness Test for Detecting Abnormalities in DRAM Wafers with Multiple Spatial Maps | 김병훈; 동승훈; 장인갑; 정명기; 정영선 | 749 | |
2015-11-05 | System Informatics: From Methodology to Applications | Kang Zhao; 김병훈 | 665 | |
2017-12-31 | 나노 인포메틱스 기반 구축을 위한 구글 트렌드와 데이터 마이닝 기법을 활용한 나노기술 트렌드 분석 | 신민수; 배성훈; 박민규 | 751 |